PerkinElmer新獲得一項質譜專利(8,686,356)。該項專利名稱為質譜裂解方法(fragmentation methods for mass spectrometry)，有5位共同發明者，分別是康涅狄格州布蘭福德的Craig M. Whitehouse，康涅狄格州特朗布爾的David G. Welkie，馬薩諸塞州沃爾瑟姆的Gholamreza Javahery, Lisa Cousins、Sergey Rakov。

　　據了解，該發明專利涉及質譜分析領域，于2012年12月13日提交申請(13/714,089)，特別適用于采用電子捕獲解離(ECD)技術或正電子捕獲解離(PCD)技術的多極離子阱質譜儀，以促進化學物種結構的鑒別。該發明的實體可以連接到任何類型的離子源，包括大氣壓離子(API)源或低壓源、大氣壓離子源包括但不限于電噴霧電離(ESI)、基質輔助激光解吸(MALDI)、電感耦合等離子體(ICP)和大氣壓化學電離(APCI)源。