ATR法不僅用于驗(yàn)證分析，還廣泛用于異物分析。對(duì)ATR法掃描獲取的光譜和用透射法掃描獲取的光譜進(jìn)行比較可以發(fā)現(xiàn)，因?yàn)樵聿煌v軸及橫軸的數(shù)值有一定差別。所以，將ATR法的光譜與透射法的光譜或數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行比較時(shí)，通過對(duì)ATR光譜進(jìn)行適當(dāng)?shù)男Ｕ扇〉酶呔鹊慕Y(jié)果。本文向您介紹通過高級(jí)ATR校正，對(duì)ATR光譜和透射光譜進(jìn)行近似處理的示例。經(jīng)高級(jí)ATR校正可使ATR光譜與透射光譜相似。并且，如果通過透射法數(shù)據(jù)庫(kù)檢索ATR譜圖，可獲取高精度的檢索結(jié)果。

　　島津高級(jí)ATR校正功能，可對(duì)上述縱軸和橫軸變化進(jìn)行校正。該校正可同時(shí)進(jìn)行以下3種校正：

　　1. 受波長(zhǎng)影響的紅外光穿透深度帶來的峰強(qiáng)度變化。

　　2. 由折射率的異常分散引起的低波數(shù)峰偏移。

　　3. 由偏光特性引起的來自朗伯-比爾定律的偏差。

　　在BCEIA2013上展出的島津IRTracer-100