日前，由中國(guó)電子科技集團(tuán)第45所承擔(dān)的國(guó)際科技合作項(xiàng)目自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)設(shè)備技術(shù)合作，通過(guò)了國(guó)家級(jí)驗(yàn)收，技術(shù)指標(biāo)達(dá)到了國(guó)外同類(lèi)設(shè)備水平，標(biāo)志著自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)設(shè)備實(shí)現(xiàn)了國(guó)產(chǎn)化，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)空白。

　　據(jù)了解，當(dāng)今電子裝備在結(jié)構(gòu)上強(qiáng)調(diào)實(shí)現(xiàn)小型化、微型化、模塊化，以滿(mǎn)足高性能、高可靠、大容量、小薄輕的要求。線(xiàn)路板上元器件組裝密度提高，其線(xiàn)寬、間距、焊盤(pán)越來(lái)越細(xì)小，已到微米級(jí)，復(fù)合層數(shù)越來(lái)越多。傳統(tǒng)的人工目測(cè)(MVI)和針床在線(xiàn)測(cè)試(ICT)檢測(cè)因“接觸受限”(電氣接觸受限和視覺(jué)接觸受限)所制,已不能完全適應(yīng)當(dāng)今制造技術(shù)的發(fā)展，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)(AOI)已經(jīng)成為IC制造業(yè)的必然需求，正越來(lái)越多地用來(lái)代替?zhèn)鹘y(tǒng)MVI和ICT技術(shù)，進(jìn)行檢測(cè)，用于監(jiān)視和保證生產(chǎn)過(guò)程的品質(zhì)。目前，我國(guó)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)(AOI)設(shè)備主要依賴(lài)進(jìn)口，一直被以色列、美國(guó)、日本等國(guó)家所壟斷。中國(guó)電子科技集團(tuán)第45所，與加拿大開(kāi)展了卓有成效的國(guó)際科技合作，共同研發(fā)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)設(shè)備，通過(guò)引進(jìn)、消化吸收、再創(chuàng)新，終于研制出了具有國(guó)際水平的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)設(shè)備，打破了國(guó)外的壟斷與技術(shù)封鎖，使進(jìn)口產(chǎn)品降價(jià)30%。

　　中國(guó)電子科技集團(tuán)第45所通過(guò)技術(shù)引進(jìn)和消化吸收，攻克了高速圖像采集和硬件處理技術(shù)，缺陷識(shí)別和處理技術(shù)，細(xì)微圖形采像技術(shù)等三項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)，并成功應(yīng)用于AOI設(shè)備的研制，目前已獲得專(zhuān)利4項(xiàng)，申報(bào)并受理發(fā)明專(zhuān)利6項(xiàng)，發(fā)表學(xué)術(shù)論文6篇，獲省部級(jí)科學(xué)技術(shù)二等獎(jiǎng)1項(xiàng)。該項(xiàng)目的完成，標(biāo)志著我國(guó)在自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域具備與國(guó)外主流設(shè)備展開(kāi)競(jìng)爭(zhēng)的實(shí)力，提高了我國(guó)電子專(zhuān)用檢測(cè)設(shè)備的制造水平。