RoHS指令專用－能量色散小焦點X射線熒光光譜儀   SPECTRO MIDEX　
• 上市時間：2009年3月 
• 創新點 
• 1.附帶FP實際金屬、貴金屬、RoHS分析、無鹵化塑膠回歸的檢測曲線，集多種應用于一身。該曲線采用大量金屬及貴金屬標準樣品繪制，代表性強，實用性強，準確度高。分析數據可同時顯示K金值及含量。
2.采用高分辨，高計數率，電制冷的SDD檢測器，實際分辨率160eV，計數率高達250,000cps，非常適合高含量樣品的分析。該計數器具有先進性及維護簡單，無需繁瑣而危險的液氮添加過程。
3.激光配合CCD攝像機雙定位，樣品分析點可視，可調。定位精度高。分析點的照片可截屏，出具報告時可以粘貼在報告中。
4.分析速度快，可在180秒內完成各類樣品的分析任務
5.可選配狹縫交換器，測試點的尺寸可調，由0.2毫米至3.3毫米。可同時分析同一樣品的各個部分，一般分析點的尺寸為1毫米。
6.可選配XYZ微米級精度全自動樣品臺，完成點，線，面掃描。一次測量過程可同時分別完成多個樣品的分析。
7.超大樣品室，可完成超大樣品的分析，樣品的尺寸可以達到300*200*150mm（長*寬*高）。同時可完成超小樣品1mm樣品的分析
• 技術參數 
• 激發 
- Mo 靶X光管 
最大功率：30W,最大電壓：48kV 
- 測量點尺寸 
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 

樣品室 
- 可顯示樣品的攝像系統(可調焦) 
- 手動調節樣品臺，樣品定位簡便 
- 馬達驅動精確移動的XYZ樣品臺， 
最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(寬x深x高)， 
最大樣品重量：3kg/6.6 lbs 

計算機 
- 外置式計算機系統，Windows 
操作系統， 
- 鍵盤，鼠標，顯示器，打印機 
- 菜單式軟件，光譜儀參數調整和 
數據評估及計算，元素成分及分布顯示 

檢測器 
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測器: 
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 
- 以Mn Kα線，在測量計數率為 
10，000脈沖計數時， 能量分辨率：FWHM< 160 eV 
- 微處理器控制的檢測器和讀出電路 
- 脈沖計數率可達250，000 cps 

光譜儀數據 
- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz, 
- 光譜儀能耗：200W 
- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm 
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1” 
- 底座尺寸寬x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ” 
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據不同配置 

分析 
- 用于合金元素分析的基本參數程序FP + 
- 塑料及復合材料的RoHS指令檢測 

環境條件 
- 周圍環境溫度：5-30°C （41-85°F） 
在20-25°C （68-77°F）下，可達到標定儀器性能 
- 在 25°C (77°F)下相對濕度: 10-80 %，無冷凝，無蒸氣腐蝕，防塵
• 主要特點 
• SPECTRO MIDEX X射線熒光能譜儀是最新推出的第三代專利產品，不僅可對樣品的微小區域進行快速無損的檢定，還可對超大樣品的表面（面積可達EC標準線路板規格的2倍， 233x160 mm）進行元素分布分析。
• 儀器介紹 
• 　　在工業及科研領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析，同時對分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測等。 黃金珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求高精度，非破壞性而且測量點小。德國斯派克分析儀器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射線熒光能譜儀正是滿足了這一要求，可最迅速、準確地提供分析數據。根據市場要求，德國斯派克分析儀器公司對儀器進行了擴展而優化，使SPECTRO MIDEX 儀器在分析性能和使用靈活性方面獨樹一幟。 

　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX　適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。SPECTRO MIDEX　也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。
　　SPECTRO MIDEX 不僅僅適用于珠寶行業、貴金屬檢驗機構，海關商檢、造幣工業等，還可完成其它分析任務如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。