XPN-300E偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校最常用的專業實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調節功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值。
系統簡介 
偏光顯微鏡熔點儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 
放大倍數：40X 100X 400X 600X
系統放大倍數：40X-2600X
聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調
起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路
檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調
補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）
調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調）
防霉：特有的防霉系統 
偏光熔點測定儀 
1.偏光熔點測定儀
在 20X 物鏡下工作溫度可達到最高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。
2.顯微加熱平臺
可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1起始溫度室溫
工作區加熱使用面積至少1X1cm
工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC
透光區域 2mm以上，可調
顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定 溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡 
系統組成 
電腦型高精度偏光顯微鏡（XPN-300E）： 1、顯微鏡 2、熔點儀 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機 
數碼相機型高精度偏光顯微鏡（XPN-300Z）：1、顯微鏡 2、熔點儀 3、數碼相機