XP-500E/XP-500Z 型高精度偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校最常用的專業實驗儀器。高精度偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影。高精度偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。
系統簡介 
高精度偏光顯微鏡系統是將精密的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
放大倍數：40X 100X 400X 600X
系統放大倍數：40X-2600X
聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調
起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路
檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調
補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）
調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調）
防霉：特有的防霉系統 
系統組成 
電腦型高精度偏光顯微鏡（XP-500E）： 1、顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機 
數碼相機型高精度偏光顯微鏡（XP-500Z）：1、顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機