XLE-3型大平臺檢測顯微鏡

XLE-3型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路、晶片的質量檢測而設計開發制造的。

正置式，三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機連接彩色監視器可直接觀察。可連接計算機打印報告、照片或連接數碼相機，照相機直接拍攝，還可以直接進行圖像記錄，并建立技術檢測檔案，存儲，查詢，可省去復雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大提高了工作效率。

1）  放大倍數：40倍至500倍

超大型載物臺，可做大范圍的縱橫方向快、慢速移動，擴大檢測領域的使用范圍，適用于電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗，實效分析等。