X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的全面自動化控制，
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領先于世界，精確到0。025um (相對與標準片)
C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米
樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI900主要技術規格如下：
No. 主要規格
1X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
X射線管功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統:根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、 多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口
3準直器程控交換系統:最多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制
多種規格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使 用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用 0.3mm準直器)
5X射線探測系統 封氣正比計數器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室
－樣品室結構 開槽式樣品室
－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm
任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動 控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制